Явление испускания твёрдыми телами вторичных электронов при бомбардировке их пучком первичных электронов лежит в основе многих современных методов анализа поверхности. Энергетические спектры и угловые распределения вторичных электронов содержат достаточно полную информацию об основных микроскопических характеристиках поверхности - составе, структуре, электронном строении.

Также явление ВЭЭ лежит в основе принципа работы ряда электронных приборов, например, в фотоэлектронных умножителях, в электроннолучевых трубках с записью изображения в виде потенциального рельефа и в Оже-спектрометрах.

Разработанная нашей компанией установка для измерения коэффициента ВЭЭ и работы выхода электронов состоит из:

- вакуумной камеры (ØхД 280 х 300 мм)с подставкой;
- системы форвакуумной и  высоковакуумной откачки на основе ТМН и магниторазрядного насоса (предельный вакуум - 5∙10-8 торр);
- электронной пушки с блоками питания (максимальная энергия - 3 кэВ);
- коллектора электронов;
- антидинатронной сетки;
- нагреваемой мишени;
- системы измерения тока с мишени и с коллектора;
- высоковольтный источник питания для измерения запирающего потенциала.

Управление установкой производится в ручном режиме при помощи блока управления установкой.